LISTA PUBLIKACJI - 1996/97


1996
  1. Gościniak I.: "Rejestry liniowe z mieszanym sprzężeniem zwrotnym", Pomiary Automatyka Kontrola 1/1996, ss. 4-6;
  2. Gościniak I.: "Liniowa metoda zwiększania efektywności diagnostycznej ścieżki samotestującej i pierścienia samotestującego", Pomiary Automatyka Kontrola 4/1996, ss. 85-88;
  3. Gościniak I.: "Equivalent Form of Linear Feedback Shift Register"; Krajowa Konferencja Teoria Obwodów i Układy Elektroniczne, Krynica 23-26 października 1996r.
  4. Gościniak I.: "Modyfikacja liniowa jako element strategii testowania układów cyfrowych", Elektronika, nr 7/96 ss. 24-26.
  5. Badura D., Gościniak I.: "Modyfikacja pierścienia samotestującego i ścieżki samotestującej dla zwiększenia skuteczności testowania". Elektronika, nr 5/96 ss. 27-31.
  6. Badura D., Hławiczka A.: "Skondensowany pierscień samotestujący - nowa niedroga technika BIST". Elektronika, nr 8/96, ss. 17-20.
  7. Badura D., Hławiczka A.: "How to reduce Cost of the Circular BIST", Workshop Proceedings of EDCC-2 Companion Workshop on Dependable Computing, Gliwice, May 15. 1996r, ss. 147-152.
  8. Badura D., Hławiczka A.: "Condensed Circular Self-Test Path: A Low-Cost Circular BIST", Proceedings of IEEE European Test Workshop, Montpellier, June 12-14, 1996,ss. 65-69.
  9. Bojanowicz D.: "Zintegrowany pakiet CAD do symulacji uszkodzeń w samo- i łatwotestowalnych układach cyfrowych", Informatyka 9/96, s. 10.
1997
  1. Badura D., Hławiczka A.: "Application of Condensed Circular BIST for EDAC Circuits", Proc. of Int. Conf. On Design and Diagnostics of Elektronic Circuits and Systems'97 - DDECS'97, May 12-16, Czech Republic, pp. 73-79;
  2. Gościniak I.: "Canonical Form of Hybrid Register", Proc. of Int. Conf. On Design and Diagnostics of Elektronic Circuits and Systems'97 - DDECS'97, May 12-16, Czech Republic, pp86-91;
  3. Badura D.: "Model for Calculating of Effectiveness of the Self-Test Structure", Proc. of 31th Spring Intern. Conference Modelling and Simulation of Systems'97, Hradec n. Moravici, 28-30 April 1997, pp.126-132;
  4. Bojanowicz D.: "CAD Tool for Simulation of Self-Testable VSLI Circuits", Proc. of 31th Spring Intern. Conference Modelling and Simulation of Systems'97, Hradec n. Moravici, 28-30 April 1997, pp.191-196;
  5. Badura D., Bojanowicz D.: "Example of practical Design of Self-Testable Circuits using CAD Tools", Proc. of 4th International Workshop on Mixed Design of Integrated Circuits and Systems'97, Poznań, Poland, 12-14 June 1997, pp.;
  6. Badura D., Hławiczka A.: "Low Cost BIST for EDAC Circuits", Proc. of Asian Test Symposium'97, Akita - Japan, 17-19 Nov. 1997;
  7. Gościniak I.: A Method for Increasing of self-testing effectiveness in the Circular Self-Test Path based BIST, Proc. of European Test Workshop 1997, Italy.


English version Możesz wybrać wersję angielskojęzyczną tego tekstu.